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LAP-W2000濕法全自動(dòng)激光粒度分析儀

產(chǎn)品名稱：LAP-W2000濕法激光粒度分析儀

技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)：ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008

測試范圍: 0.1um～1250um 0.1um～2000um

探測單元：86、96

激光類型:進(jìn)口光纖半導(dǎo)體激光器

首先感謝您對(duì)LAP-W2000濕法智能全自動(dòng)激光粒度分析儀的關(guān)注！

LAP-W2000是我公司傾力研發(fā)的產(chǎn)品，自上市以來贏得了廣大客戶的*。LAP-W2000采用*的Mie氏散射原理和會(huì)聚光傅立葉變換光路。高密度探頭及全量程無縫銜接測試方法，保證了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。*的濕法循環(huán)分散系統(tǒng)，保證顆粒測試過程中無顆粒沉積現(xiàn)象，測試排水后無廢液積存現(xiàn)象，保證了第二次測試精度，使測試結(jié)果更真實(shí)可靠；同時(shí)采取了管道無殘留設(shè)計(jì)，保證了測試不同樣品的準(zhǔn)確性。*的光路自動(dòng)校對(duì)系統(tǒng)彰顯出LAP-W2000*優(yōu)勢。濕法激光粒度分析儀

LAP-W2000激光粒度分析儀主要性能特點(diǎn)：

*的光路設(shè)計(jì)：LAP-W2000采用會(huì)聚光傅立葉變換測試技術(shù)保證在zui短的焦距獲得zui大量程，有效提高儀器的分辨能力；*的高密度探測單元，讓LAP-W2000擁有了*的小顆粒測試能力，高密度探測單元使LAP-W2000具有*的全量程無縫測試能力，高配版采用了雙光路設(shè)計(jì)。

進(jìn)口光纖半導(dǎo)體激光器：LAP-W2000采用了高穩(wěn)定、長壽命的進(jìn)口大功率光纖輸出半導(dǎo)體激光器，優(yōu)良的單色性及穩(wěn)定性讓LAP-W2000擁有了*的測試重復(fù)性。濕法激光粒度分析儀

激光器功率監(jiān)測及自動(dòng)調(diào)整：*采用了恒功率激光器，實(shí)時(shí)對(duì)激光功率進(jìn)行檢測并自動(dòng)調(diào)整功能，有效避免長期使用造成的激光功率衰減的問題。同時(shí)采用了恒流恒壓高濾波激光電源有效延長了激光器壽命，正常使用達(dá)3萬小時(shí)以上。

防塵、防震設(shè)計(jì)：儀器整體進(jìn)行了密封設(shè)計(jì)，大幅提高了內(nèi)部元器件使用壽命。*的懸浮式結(jié)構(gòu)能有效避免外界震動(dòng)對(duì)儀器的干擾，使結(jié)果測試更穩(wěn)定可靠。

自動(dòng)對(duì)中：*采用機(jī)械中心與光學(xué)中心相結(jié)合技術(shù)，光路自動(dòng)調(diào)整定位更，達(dá)到微米級(jí)別；同時(shí)光路調(diào)整速度個(gè)更快捷zui快15秒即可完成調(diào)整。自行研制的自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)包括步進(jìn)電機(jī)、精密導(dǎo)軌、精密控制器以及軟件系統(tǒng)組成，zui小步距0.2微米，保證激光束焦點(diǎn)始終從探測器中心點(diǎn)穿過，提高測試結(jié)果的準(zhǔn)確性以及測試的重復(fù)性。自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)是易仕特所有型號(hào)激光粒度儀的標(biāo)準(zhǔn)配置。

智能全自動(dòng)操作模式：軟件實(shí)現(xiàn)一鍵式操作，自動(dòng)進(jìn)水、自動(dòng)進(jìn)樣、自動(dòng)測試、自動(dòng)清洗，整個(gè)測試過程實(shí)現(xiàn)一鍵式全自動(dòng)操作，使用方便快捷。

*微量循環(huán)系統(tǒng)：整個(gè)分散循環(huán)系統(tǒng)進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì)，分散介質(zhì)大于180毫升即可循環(huán)測試，真正達(dá)到了微量循環(huán)測試；所有接頭采用了速插快擰設(shè)計(jì)，短時(shí)間內(nèi)即可更換全部管道；優(yōu)化的設(shè)計(jì)保證排水后無廢夜殘留，保證了下一次測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

超寬量程：LAP-W2000量程達(dá)到了0. 1μm～2000μm或0.01μm～2000μm。

超聲防干燒：LAP-W2000配備了100W大功率超聲，同時(shí)具有超聲防干燒功能。

誤操作保護(hù)：LAP-W2000具有自我保護(hù)功能，對(duì)一些會(huì)損害儀器的誤操作不響應(yīng)，大大降低了因人為誤操作造成的損壞。

露點(diǎn)測量：樣品窗結(jié)霧會(huì)影響測量的準(zhǔn)確性，這樣的測試結(jié)果沒有實(shí)際意義，LAP-W2000加裝了有霧點(diǎn)測量系統(tǒng)，一旦起霧軟件會(huì)自動(dòng)提示（選裝）。

免排氣泡設(shè)計(jì)：全新的設(shè)計(jì)使整個(gè)測試過程不會(huì)有氣泡進(jìn)入測試樣品窗，避免了氣泡干擾（免排氣泡功能技術(shù)我們*擁有）。

樣品無殘留設(shè)計(jì)：儀器管道及排水結(jié)構(gòu)進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì)，儀器管道、循環(huán)泵內(nèi)無積液殘留，避免對(duì)下一次測試數(shù)據(jù)的影響；干法測試同樣進(jìn)行了無殘留設(shè)計(jì)。

樣品窗快換裝置：全新設(shè)計(jì)的樣品窗快換裝置，使樣品窗更換更方便快捷（20秒鐘即可完成樣品窗的拆裝過程）。

穩(wěn)定性及重復(fù)性達(dá)到國外儀器標(biāo)準(zhǔn)

主要技術(shù)參數(shù)：